非接（jiē）觸式三次元測量儀的檢測原理核心是通（tōng）過非接觸傳感器（如光學、激光等）捕捉物體表（biǎo）麵的空間信息，結合機械運動係統和算法，將二維或三維數（shù）據轉化為精確的（de）坐標參（cān）數（shù），最終實現對物（wù）體尺寸（cùn）、形狀、位置等參數的測量。不同類型的傳感器對應不同的技術原理，具體如下：
1. 光（guāng）學成像與立體視覺原理
這是視覺類非接觸測量（liàng）儀（yí）的（de）核心原理，利用光學成像和幾何算法還原三維信息（xī），常見技術包括：
單目視覺（jiào） + 運（yùn）動重建：
單台（tái）高分辨率相機通過在不同（tóng）位置（zhì）拍攝物（wù）體的多張二維圖像，結合相機自身的運動軌跡（由（yóu）測量儀的 X、Y、Z 軸移動記（jì）錄），利用三角測量法計算物體表麵各點的三維坐標。類似於人眼通過移動視角感知物（wù）體深度。
雙目 / 多（duō）目（mù）立體視覺（jiào）：
多台相機從不同角度同（tóng）時（shí）拍攝物體（tǐ），通過比對不同（tóng）圖像中同一特征（zhēng）點的位置偏差（chà）（即 “視差”），結合相機間的已知距離（基線距），利用立體匹配算法計算（suàn）該（gāi）點（diǎn）的深度信息，進而構建三維模型。原理與人的（de）雙（shuāng）眼視（shì）覺形成立體感一致。
結構（gòu）光投（tóu）射技術：
向物體表麵投射預設的光學圖（tú）案（如條紋（wén）、網格（gé）、隨機散斑（bān）），圖案因物體表麵的凹凸而發生變形。相機捕捉變形後的圖案，通過分（fèn）析圖案的扭曲程度（如條紋間距變化），結合投射器與相機的位（wèi）置關（guān）係，計算出各點的高度差，最終重建三維輪廓。
例如：條紋投射時，物體凸（tū）起處會使條紋提前 “彎曲”，通過算法可反（fǎn）推出（chū）凸起（qǐ）的高度。
2. 激光掃描原理
激光類非接觸測量儀通過激光束（shù）與物（wù）體表（biǎo）麵的交互獲取（qǔ）三維（wéi）坐標，主要（yào）分為：
點激光掃（sǎo）描：
激光發射器發射一束聚焦激光（點光源）照（zhào）射物體表麵（miàn），反射光被接收（shōu）器（如 CCD 相機）捕捉。根據激光發射方向與接收方向的夾角，結合發射器與接收器的固定距離（基線），利用三角（jiǎo）公（gōng）式計算出激光照射點的三維坐標（X、Y、Z）。測量儀的機械（xiè）軸帶（dài）動激光頭或工件移動，逐點掃描即可獲取物體表麵的完整數據。
線激光掃（sǎo）描：
激光發射器通過光學元件將激光束擴成一條（tiáo）激光線（線光源），同時照射物體表麵的一條線段。相機同步拍攝激光線（xiàn）在物體表（biǎo）麵的變形圖像，通過分析線上各點的位（wèi）置偏（piān）差，一次性計算出整條線（xiàn）上所有點的（de）三維坐標。配合機械軸的連續移動，可（kě）快速獲取大（dà）麵（miàn）積的三（sān）維點雲數據，效（xiào）率遠高於點激（jī）光。
3. 其他輔助原理
相位測量原（yuán）理：
部分結構光或激光測量儀會使用（yòng） “調（diào）製（zhì）光”（如正弦波條紋），通過分析反射光的相位變化來計算物體表麵的（de）深度。相位差與深度呈線性關係，精度可（kě）達微米級，適合高精度曲（qǔ）麵測量。
共聚焦原理：
針對（duì）微觀結構（如半導體芯片、光學鏡片），采用共聚焦傳感器，通過聚焦透鏡將單（dān）色光聚（jù）焦到物（wù）體表麵某一點，隻（zhī）有該點（diǎn）的反射光能通過針孔濾鏡被接收。通過移動（dòng）聚焦位置（zhì）（Z 軸方向），找到反射光最強的點（即焦點），記錄該點的 Z 坐標（biāo），實現納米級的高（gāo）精度測量。
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